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材料磁性综合测量仪

(发明专利:ZL20091020270.8 )

 

  

  仪器主要技术参数:

•  实验平台 光学减振组合式实验台,台面尺寸 1600 × 1200mm , M6 螺孔,孔距 25 × 25mm

•  电磁铁 磁极间隙 0-50mm 连续可调

•  精密恒流电源 0-7.5A 连续可调

•  半导体激光器 波长 650nm ,输出功率 2mW

•  位移传感器测量精度 0.1um

•  磁化强度测量精度 10 -6 Am 2

 

 

  

 

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